歡迎來到北京華儀高科科技有限公司企業(yè)官網(wǎng)
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| EQP等離子體質(zhì)量和能量分析儀 | ESPion?高級朗繆爾探針 | ? | |
| Hiden ?EQP是一臺結(jié)合質(zhì)量和能量分析的儀器,。用于分析 | ESPion ?Langmuir ?靜電等離子體探針適用于RF和DC等離子 | ||
| 等離子體中正、負(fù)離子,、中性粒子以及自由基的種類和 | 體反應(yīng)器,，自動(dòng)測量、在線顯示和存儲測量參數(shù),。ESPion | ||
| 能量分布。 | ? | 在被動(dòng)射頻補(bǔ)償方面，在所有商業(yè)化探針 | |
| ●?刻蝕/沉積過程研究 | ●?磁控濺射沉積過程分析 | 中ESPion具有的屏蔽阻抗(4.25Mohm ?at ?13.56 ?MHz | |
| cf.100kohm),，也是速的脈沖等離子體探針。具有自 | |||
| ●?離子注入/激光燒蝕 | ●?殘余氣體分析/泄漏檢測 | ||
| 清洗循環(huán)功能,，防止探針尖端污染,。 | |||
| ●?脈沖等離子體研究 | ? | ||
| ? | ●?蝕刻/沉積/清潔等離子體 | ●?離子密度?(Ni & Gi) | |
| ●?粒子通量、方向,、能量和原子狀態(tài) | |||
| ●?質(zhì)量數(shù)：1～300,、510,、1000、2500amu | ●?脈沖等離子體操作 | ●?等離子體電勢 | |
| ●?1000eV能量選配,；懸浮電位可選至10keV | ●?電子密度(Ne) | ●?Debye長度 | |
| ●?電子附著分析選配 | ? | ●?電子溫度(Te & EEDF) | ●?懸浮電位 |
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| PSM等離子體質(zhì)量和能量分析儀 | HPR 60分子束取樣質(zhì)譜儀 | |
| PSM是一臺差式泵質(zhì)譜儀（In-Line Plasma Analysers for | HPR ?60適用于常壓下的高速度,、無碰撞的分子束分析， | |
| Neutrals, Radicals and Ion Analysis）,，分析等離子過程 | 即常壓下的等離子體過程分析/表征 | |
| 中的二次離子和中性粒子,。 | ? | ●?反應(yīng)動(dòng)力學(xué) |
| ●?離子束蝕刻 | ●?等離子體沉積研究 | |
| ●?常壓等離子體診斷 | ||
| ●?離子植入/激光燒蝕 | ●?殘余氣體分析 | |
| ●?燃燒研究–火焰離子化分析 | ||
| ●?靈敏度高/極穩(wěn)定的3級過濾四極桿，質(zhì)量數(shù)范圍至2500amu | ||
| ●?催化研究 | ||
| ●?脈沖離子計(jì)數(shù)檢測器,，7個(gè)數(shù)量級的動(dòng)態(tài)范圍 | ||
| ●?CVD/MOCVD–金剛石生長研究 | ||
| ●?能量分析選件,，標(biāo)準(zhǔn)±100eV（1000eV可選?） | ||
| ●?大氣輝光放電分析 | ||
| ●?具有可調(diào)諧的離子源，用于表觀勢能譜 | ||
| ●?集束分析 | ||
| ●?信號選通分辨率1μs,， | ? | |
| ? | ●?閃脫附研究 | |
| ●?標(biāo)準(zhǔn)分析中性粒子,、自由基，正,，負(fù)離子分析 | ||
| ●?低,、高能量分析選項(xiàng)，分析中性粒子,、離子,、自由基 | ||
| ●?Mu-Metal, Radio-metal屏蔽可選，高壓操作可選 | ||
| ●?20,、100,、1000 mbar取樣壓力選擇 | ||
